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  • OPTM 系列顯微分光膜厚儀
    OPTM 系列顯微分光膜厚儀

    產(chǎn)品型號

    廠商性質

    經(jīng)銷商

    更新時間

    2025-04-21

    瀏覽次數(shù)

    1498

    產(chǎn)品描述

    OPTM 系列顯微分光膜厚儀使用顯微光譜法在微小區(qū)域內通過絕對反射率進行測量,可進行高精度膜厚度/光學常數(shù)分析。 可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度,例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。 測量時間上,能達到1秒/點的高速測量,并且搭載了即使是初次使用的用戶,也可容易出分析光學常數(shù)的軟件。
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